ASTM F 1152-1993 硅片刻槽尺寸的测试方法
作者:标准资料网 时间:2024-05-19 21:01:49 浏览:9551
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【英文标准名称】:TestMethodforDimensionsofNotchesonSiliconWafers
【原文标准名称】:硅片刻槽尺寸的测试方法
【标准号】:ASTMF1152-1993
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1993
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:试验;刻槽;尺寸;开关;硅氧烷;大小测量;电子工程
【英文主题词】:notches;dimensions;sizemeasurement;electronicengineering;silicones;testing;switches
【摘要】:
【中国标准分类号】:H82
【国际标准分类号】:29_040_30
【页数】:3P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:硅片刻槽尺寸的测试方法
【标准号】:ASTMF1152-1993
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1993
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:试验;刻槽;尺寸;开关;硅氧烷;大小测量;电子工程
【英文主题词】:notches;dimensions;sizemeasurement;electronicengineering;silicones;testing;switches
【摘要】:
【中国标准分类号】:H82
【国际标准分类号】:29_040_30
【页数】:3P;A4
【正文语种】:英语
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