IEC 60749-33-2004 半导体器件.机械和气候试验方法.第33部分:加速抗湿.无偏压热器

作者:标准资料网时间:2024-05-10 15:41:47 浏览:8403 来源:标准资料网

【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part33:Acceleratedmoistureresistance-Unbiasedautoclave
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第33部分:加速抗湿.无偏压热器
【标准号】:IEC60749-33-2004
【标准状态】:作废
【国别】:国际
【发布日期】:2004-03
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电子设备及元件;半导体器件;电子工程;电气工程;抗湿;粘结强度;集成电路;机械试验;环境试验;试验;气候试验;组件;半导体
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:12P;A4
【正文语种】:英语

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