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JB/T 7976-2010 轮廓法测量表面粗糙度的仪器 术语

作者:标准资料网 时间:2024-05-27 16:07:27  浏览:8092   来源:标准资料网
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基本信息
标准名称:轮廓法测量表面粗糙度的仪器 术语
英文名称:Instrument for the measurement of surface roughness by the profile method-Terms
中标分类: 机械 >> 工艺装备 >> 量具与量仪
ICS分类: 计量学和测量、物理现象 >> 长度和角度测量 >> 测量仪器仪表
替代情况:替代JB/T 7976-1999
发布部门:中华人民共和国工业和信息化部
发布日期:2010-02-11
实施日期:2010-07-01
首发日期:
作废日期:
归口单位:全国量具量仪标委会
起草单位:哈尔滨量具刃具集团有限责任公司;机械科学研究院中机生产力促进中心
出版社:机械工业出版社
出版日期:2010-07-01
适用范围

本标准规定了轮廓法测量表面粗糙度的仪器的基本术语与定义。
本标准适用于轮廓法测量表面粗糙度的仪器。

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所属分类: 机械 工艺装备 量具与量仪 计量学和测量 物理现象 长度和角度测量 测量仪器仪表
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【英文标准名称】:Semiconductordevices-Part10:Genericspecificationfordiscretedevicesandintegratedcircuits;Amendment3
【原文标准名称】:半导体器件第10部分:分立器件和集成电路总规范修改3
【标准号】:IEC60747-10AMD3-1996
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:1996-08
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电子工程;规范;电子设备及元件;总规范;集成电路;半导体器件;分立器件
【英文主题词】:specification;semiconductordevices;electronicequipmentandcomponents;discretedevices;electronicengineering;genericspecification;integratedcircuits
【摘要】:Replacestheclauses3.11.8,3.11.8.1and3.8.11.2.Addsannewclause4.2andrenumberstheclauses4.2to4.4as4.3to4.5,respectively.AddsanewannexD.
【中国标准分类号】:L56
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:7P;A4
【正文语种】:英语